高頻高壓介電常數介質損耗測試系統

產品型號：HC-Q37a

廠商性質：生產廠家

所在地：北京市

更新日期：2026-01-12

產品簡介：

華測儀器HC-Q37a高頻高壓介電常數介質損耗測試系統

  高頻高壓介電常數介質損耗測試系統由華測儀器生產，用來測量高壓器件（如絕緣材料）的介電常數及介電損耗功能。該儀器以鎖相放大器原理運作，能夠分析容性和感性負載，特別是旁路電抗器。具有精度和穩定性；該儀器的測試頻率范圍為1mHz~1kHz，且在低頻范圍內可選測量方式，在測試精度的前提下，可減少實驗室測量時的等待時間及現場測量的停電時間；內置的工業計算機具有標準的接口，使得測量結果和數據處理的便利，以供進一步的分析和報告。

一、產品優勢

1. 手動與自動模式都操作簡便，軟件輔助試驗準備，執行和趨勢分析

2. 能提供完整的測量系統，包括：標準電容，標準損耗器、測試電極

3. 能測量不同頻率下的類型絕緣材料介電常數及損耗

4. 系統采用高壓功率放大器及鎖相放大器技術

二、產品參數

耗散因數(tanδ)：0 ~ 100

功率因數(cosφ)：0 ~ 1

電容：≤10nF(1kHz)

           ≤1uF(50Hz)

電感：≤ 1 kH

測試電壓：上限2000V

測試電流@輸入Cn：1pA~ 100 mA

測試電阻：上限100T

測試頻率：1mHz~1kHz

運行溫度：-10~50℃

存儲溫度：-20~50℃

濕度：5~95％相對濕度，不結露