華測儀器高壓介電常數(shù)介質損耗測試系統(tǒng)

產(chǎn)品型號：HC-Q37a

廠商性質：生產(chǎn)廠家

所在地：北京市

更新日期：2026-01-19

產(chǎn)品簡介：

HC-Q37a華測儀器高壓介電常數(shù)介質損耗測試系統(tǒng)

價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產(chǎn)品技術規(guī)格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術工程師。

華測儀器高壓介電常數(shù)介質損耗測試系統(tǒng)由華測儀器生產(chǎn)，用來測量高壓器件（如絕緣材料）的介電常數(shù)及介電損耗功能。該儀器以鎖相放大器原理運作，能夠分析容性和感性負載，特別是旁路電抗器。具有精度和穩(wěn)定性；該儀器的測試頻率范圍為1mHz~10kHz，且在低頻范圍內(nèi)可選測量方式，在測試精度的前提下，可減少實驗室測量時的等待時間及現(xiàn)場測量的停電時間；內(nèi)置的工業(yè)計算機具有標準的接口，使得測量結果和數(shù)據(jù)處理的便利，以供進一步的分析和報告。

一、產(chǎn)品優(yōu)勢

1. 手動與自動模式都操作簡便，軟件輔助試驗準備，執(zhí)行和趨勢分析

2. 能提供完整的測量系統(tǒng)，包括：標準電容，標準損耗器、測試電極

3. 能測量不同頻率下的類型絕緣材料介電常數(shù)及損耗

4. 系統(tǒng)采用高壓功率放大器及鎖相放大器技術

二、產(chǎn)品參數(shù)

耗散因數(shù)(tanδ)：0 ~ 100

功率因數(shù)(cosφ)：0 ~ 1

電容：≤10nF(1kHz)

          ≤1uF(50Hz)

電感：≤ 1 kH

測試電壓：上限2000V

測試電流@輸入Cn：1pA~ 100 mA

測試電阻：上限100T

測試頻率：1mHz~10kHz

運行溫度：-10~50℃

存儲溫度：-20~50℃

濕度：5~95％相對濕度，不結露