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2019-01-02
何時(shí)需要使用皮安表？測量低電平直流電流需要的功能往往遠(yuǎn)超過數(shù)字萬用表（DMM）所能提供的。一般地說，DMM的靈敏度不足以測量100nA以下的電流。即便在較高的電流上，DMM的輸入壓降（voltageburden）達(dá)到幾百毫伏，因此不能測量電流。靜電計(jì)能測量低電流，但是測量極低電流所需的電路以及電壓、電阻和電荷測量等功能會(huì)大大增加靜電計(jì)的成本。12型皮安表結(jié)合了DMM的經(jīng)濟(jì)性和易用性以及接近靜電計(jì)的微電流靈敏度。在低阻快速模式(FAST)下，其輸入端壓降幾乎為0(μV量級(jí)），在...2019-01-02
皮安電流表一、主要特點(diǎn)1、電流測量范圍極寬：從毫安、微安、納安、皮安到飛安(±1fA～±20mA)2、體積小、重量輕、度高，1/2位數(shù)字顯示3、性好穩(wěn)定、讀數(shù)方便4、有兩種測試模式：普通模式(NORMAL)和低阻模式(FAST),在普通模式(NORMAL)即可以很簡便擴(kuò)展到測量更大的電流，也能測量極微弱電流和測量電容較大的測量對(duì)象。5、在低阻快速模式(FAST)下，其輸入端壓降幾乎為0(μV量級(jí)），在測量電路中幾乎不產(chǎn)生壓降,也即電流表的內(nèi)阻幾乎為...2019-01-02
高溫四探針測試儀測試電阻率的原理和方法高溫四探針測試儀可以實(shí)現(xiàn)高溫、真空及惰性氣氛條件下測量硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率和外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導(dǎo)電玻璃（ITO）和其他導(dǎo)電薄膜的方塊電阻。高溫四探針測試儀的測量原理測量電阻率的方法很多，如三探針法、電容-電壓法、擴(kuò)展電阻法等，四探針法則是一種廣泛采用的標(biāo)準(zhǔn)方法，高溫四探針測試儀采用經(jīng)典直排四探針原理，同時(shí)采用了雙電測組合四探針法。經(jīng)典的直排四探針法測試電阻率，要求使用等間距的探針，如果針間距離不等或探針...2018-12-29
高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀規(guī)格與技術(shù)參數(shù)一華測高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀產(chǎn)品簡介高頻介損及介電常數(shù)測試儀能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位。主要用于測量玻璃、陶瓷等材料在高頻信號(hào)下的介損、介電常數(shù)。二華測高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀規(guī)格型號(hào)HCJDCS-BHCJDCS-AHCJDCS-C...2018-12-28
耐電弧試驗(yàn)儀的原理及技術(shù)參數(shù)名稱：耐電弧試驗(yàn)儀型號(hào)：HCDH-4適用標(biāo)準(zhǔn):GB/1411-2002品牌:華測應(yīng)用領(lǐng)域：PCB、光伏膜材料、四氟、ABS、尼龍、薄膜材料、絕緣漆、云母材料、陶瓷、玻璃纖維等耐電弧性能評(píng)定，干固體絕緣材料耐高電壓、低電流放電現(xiàn)象的試驗(yàn)。一實(shí)驗(yàn)范圍耐電弧試驗(yàn)儀試驗(yàn)方法能夠提供同類絕緣材料當(dāng)其被暴露于高電壓小電流電弧放電時(shí)，它們之間耐受發(fā)生在緊靠表面損壞情況的初步差異。電弧放電引起局部熱的和化學(xué)的分解與腐蝕并終在絕緣材料上形成導(dǎo)電通道。試驗(yàn)條件的嚴(yán)酷程...2018-12-28
電壓擊穿試驗(yàn)儀又叫電壓擊穿測試儀，主要適用于固體絕緣材料如：塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度和耐電壓時(shí)間的測試。電壓擊穿試驗(yàn)機(jī)的操作步驟：1、試驗(yàn)前的準(zhǔn)備：1）打開試驗(yàn)機(jī)右側(cè)的總電源開關(guān)，預(yù)熱15分鐘。2）打開計(jì)算機(jī)進(jìn)入Windows系統(tǒng)。雙擊本儀器軟件的快捷圖標(biāo)打開試驗(yàn)登錄界面輸入登錄密碼即可進(jìn)入試驗(yàn)界面。2、交直流試驗(yàn)的切換：1）本儀器高壓輸出為交流電壓。直流的獲得方式為在原回路中串入高壓硅堆，使測試回路為脈動(dòng)的直流電壓。實(shí)現(xiàn)...2018-12-28
介質(zhì)損耗測試儀的工作原理介質(zhì)損耗測試儀一般用于變電站、發(fā)電廠、車間、試驗(yàn)室、科研單位等環(huán)境現(xiàn)場，主要針對(duì)各種高壓電力設(shè)備介損正切值及電容量進(jìn)行測量。該設(shè)備不僅可以用正、反接線方法測量不接地或直接地的高壓電器設(shè)備，還可以測量電容式電壓互感器的tgδ及主電容C1、C2電容量。介質(zhì)損耗測試儀其工作原理為，啟動(dòng)測量后高壓設(shè)定值送到變頻電源，變頻電源用PID算法將輸出緩速調(diào)整到設(shè)定值，測量電路將實(shí)測高壓送到變頻電源，微調(diào)低壓，實(shí)現(xiàn)高壓輸出。根據(jù)正/反接線設(shè)置，測量電路根據(jù)試驗(yàn)電流自動(dòng)選...
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