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2022-06-02
高溫絕緣電阻測試儀用于測量電線絕緣的電阻，完整性和安全性。由于電絕緣層破裂，可能會發(fā)生許多危險。電擊和人員傷害，系統(tǒng)故障以及機械故障，火災(zāi)隱患以及必定的停機時間成為主要問題。絕緣測試有多種*的測試方法。考慮絕緣電阻時，主要執(zhí)行三種不同的測試。它們用于電動機，變壓器和發(fā)電機，但也可以用于電線和電纜。請注意，絕緣測試僅應(yīng)在斷電的電路上執(zhí)行。現(xiàn)場閱讀測試點讀測試是在相同時間間隔內(nèi)以固定電壓進行的一次絕緣測試，通常是按照常規(guī)維護計劃進行的。每次測試的時間間隔通常不少于60秒。每年都會...2022-05-26
如果電壓作用時間很短(例如以下)，固體介質(zhì)的擊穿往往是電擊穿，擊穿電壓當然也較高。隨著電壓作用時間的增長，擊穿電壓將下降，如果在加電壓后數(shù)分鐘到數(shù)小時才引起擊穿，則熱擊穿往往起主要作用。不過二者有時很難分清，例如在工頻交流耐壓試驗中的試品被擊穿，常常是電和熱雙重作用的結(jié)果。電壓作用時間長達數(shù)十小時甚至幾年才發(fā)生擊穿時，大多屬于電化學擊穿的范疇。以常用的油浸電工紙板為例，在圖中，以頻擊穿電壓(峰值)作為基準值，縱坐標以標么值來表示。電擊穿與熱擊穿的分界點時間約在之間，作用時間大...2022-05-23
優(yōu)點1:更高頻率的測量提高了內(nèi)置放大器的輸出頻率、采用FPGA高速采集，實現(xiàn)電滯回線*大500KHz的測試頻率。*大40M的高速采集。同時內(nèi)置的高速信號發(fā)生裝置，硬件支持*快脈沖100ns的波形觸發(fā)，J大提高了脈沖測試速度。優(yōu)點2:更完善的測量功能比現(xiàn)有的鐵電分析儀，增加了TSDC、熱釋電、電卡、阻抗、電阻、擊穿等測量功能。預(yù)留4通道高速接口，方便擴展高低溫測試環(huán)境。在功能材料的電學測試，可輕松實現(xiàn)一套系統(tǒng)完成電學測試。優(yōu)點3:更嚴格的質(zhì)量管控嚴格做好每一款產(chǎn)品質(zhì)量把控，從原...2022-05-11
電壓擊穿試驗儀，又叫電壓擊穿測試儀，主要適用于固體絕緣材料如：塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸姸群湍碗妷簳r間的測試。該設(shè)備試驗過程又可由單片機實現(xiàn)控制，試驗結(jié)果顯示在液晶屏上，同時也可通過通訊口把數(shù)據(jù)傳給計算機由計算機控制試驗過程及處理試驗數(shù)據(jù)。電壓擊穿試驗儀規(guī)格型號選擇：電壓擊穿試驗儀HCDJC-10KV主要用于薄膜材料，丙烯薄膜聚乙烯薄膜.聚酯薄膜，流延聚丙烯薄膜。電壓擊穿試驗儀HCDJC-20KV主要適用于橡膠，絕緣漆漆膜，聚...2022-05-10
產(chǎn)品用途據(jù)標準《GB/T13541-92電氣用塑料薄膜試驗方法》，電氣用塑料薄膜要求進行電弱點測試，在給定直流電壓下每平方米的擊穿點（電弱點）數(shù)成為衡量薄膜成量的重要指標。電氣用塑料薄膜電弱點測試儀，無須將膜卷分切成小卷，根據(jù)薄膜的使用寬度直接進行電弱點測試。由于薄膜在生過程中極易引起縱向劃傷，該儀器引用“電弱線”概念，即在規(guī)定的時間內(nèi)檢測到的試樣漏電流均超過1mA時，認定為該薄膜試樣在生產(chǎn)過程中存在縱向劃痕，從而產(chǎn)生“電弱線”，測試儀統(tǒng)計的電弱點總數(shù)為電弱點數(shù)與電弱線數(shù)之和...2022-05-09
測試原理1、擊穿、耐壓試驗就是對被試品施加一定的電壓，并保持一定時間，以考慮被試品絕緣承受各種電壓的性能。絕緣電阻和吸收比試驗、泄漏電流和直流耐壓試驗以及介質(zhì)損失角測量試驗等雖然能發(fā)現(xiàn)很多絕緣缺陷，但因其試驗電壓低于被試品的工作電壓，往往對一些絕緣缺陷還不能及時發(fā)現(xiàn)，為了進一步暴露設(shè)備缺陷，檢查電氣設(shè)備絕緣水平和確保是否能投入運行，有必要進行交流擊穿及耐壓試驗。2、它是鑒定電氣設(shè)備絕緣強度有效直接的方法，它對于判斷電器設(shè)備能否投入運行具有決定性的意義。交流耐壓試驗的電壓、波形...2022-05-06
影響介電性能的因素有哪些？1)頻率因為只有少數(shù)材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很寬的頻率范圍內(nèi)它們的ε和taδ幾乎是恒定的，且被用作工程電介質(zhì)材料，然而一般的電介質(zhì)材料必須在所使用的頻率下測量其介質(zhì)損耗因數(shù)和電容率。電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的變化是由于介質(zhì)極化和電導而產(chǎn)生，重要的變化是極性分子引起的偶極子極化和材料的不均勻性導致的界面極化所引起的。2)溫度損耗指數(shù)在一個頻率下可以出現(xiàn)一個至大值，這個頻率值與電介質(zhì)材料的溫度有關(guān)。介質(zhì)損耗因數(shù)和電容率的溫度系數(shù)可以是正的或負的，這...
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